要深入理解半导体的电学特性,我们必须借助量子力学框架下的电子能带结构模型。简而言之,该模型描绘了电子只能在特定的、被允许的能量区域内活动。
在绝对零度(0K)时,半导体(以硅为例)的能带结构中存在两个关键区域:价带(Valence Band)和导带(Conduction Band)。价带是较低的能带,被价电子完全填满。导带是较高的能带,此刻完全空置,没有任何电子。两者之间被一个能量间隙——禁带(Forbidden Band)隔开,对于硅而言,这个禁带宽度约为1.1 eV。量子力学原理指出,电子不能稳定存在于禁带内。
由于价带已满,没有可供电子跃迁的空余能态,电子无法在电场作用下被加速;同时导带又是空的,没有能够导电的电子。因此,在0K时,纯净的硅表现为绝缘体。
然而,一旦温度升高,情况就发生了根本性转变。热能足以激发一小部分价带中的电子,使其获得足够能量跨越禁带,进入到导带中。从统计学上看,产生这种“本征激发”的电子数量极其微小,例如在室温下,大约每1013个硅原子中才有一个电子能完成这次跃迁。尽管数量稀少,但这足以使材料产生一定的导电能力。
导带中的电子数量(Ne)随温度(T)的升高呈指数级增长,同时也取决于禁带宽度。材料的电导率(σ)不仅与这些电子的数量有关,还取决于它们的迁移率(μ)。迁移率定义为单位电场(E)下载流子的运动速度(v),即 μ = v / E
。综合来看,电导率可表示为 σ = N<sub>e</sub>μe
,其中e为电子电荷。
电子的迁移率会受到杂质原子、晶界等晶格缺陷以及晶格振动(声子)的严重影响,与之发生相互作用会导致散射,阻碍其定向运动。这正是半导体材料(尤其是硅)需要达到极高纯度并消除晶界的原因,而实现这一目标则依赖于区熔法(Zone Refining)或切克劳斯基晶体提拉法(Czochralski Crucible Pulling)等复杂且昂贵的制造工艺。准确表征材料的纯度、晶体完整性及其对电学性能的影响,是半导体研发和品控中的核心环节。
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半导体的电导率随温度升高而增加,这一点与金属和合金的行为恰好相反,后者的电导率随温度升高而降低。
热激发除了让电子进入导带,还带来了另一个重要结果:电子离开价带后,在原本的位置上留下了空的能态,这些“空位”被称为空穴(Electron Holes)。空穴的存在使得价带中的其他电子有了移动的空间,从而产生了额外的导电效应。我们可以将空穴视为带正电的载流子,其行为与带负电的电子相对应。
本质上,在非绝对零度下,热能同时创造了两种载流子:导带中的电子和价带中的空穴。电子在外电场作用下形成电子电流,而价带中的空穴则在电场下产生方向相反的空穴电流。因此,总电导率是两者贡献之和:σ = N<sub>e</sub>μ<sub>e</sub>e + N<sub>h</sub>μ<sub>h</sub>e
,下标e和h分别代表电子和空穴。由于这一导电过程不涉及外来元素,完全由材料自身性质决定,因此被称为本征导电(Intrinsic Conduction),相应的半导体则称为本征半导体。在本征半导体中,费米能级大致位于禁带的中央。
要显著增加导带中的电子数量,从而控制其导电性,最常用的方法是向硅中掺入微量的V族元素,如磷(P)或砷(As),这些元素被称为施主原子(Donor Atoms)。掺杂量通常极低,例如仅为0.0001%。
这些掺杂原子会以替位的方式取代晶格中的部分硅原子(如图1所示)。磷原子有五个价电子,比硅多一个。当它取代硅原子形成共价键后,这个额外的“施主电子”只受到原子核微弱的束缚。在硅晶体中,磷施主电子的束缚能仅约0.045 eV。这意味着,只需极小的热能(远低于硅的禁带宽度),这个电子就能脱离束缚,成为导带中的自由电子。在室温下,几乎所有的施主电子都已被激发到导带中,使得材料的导电能力大幅提升。这种半导体被称为N型半导体。
图1 磷原子替位掺杂硅晶格的二维示意图(共价键)
在室温附近,掺杂半导体的导电性主要由多数载流子决定。例如,在N型半导体中,导带中的电子是多数载流子。不过,当温度进一步升高时,本征激发效应会变得显著,对总电导率的贡献也不可忽视。
除了硅、锗这类IV族元素半导体,由III族和V族元素构成的化合物,如砷化镓(GaAs),也具有相似的半导体特性。GaAs在技术上备受关注,因为它拥有比硅更宽的禁带和更高的电子迁移率,这使其在高速应用中具备优势。此外,GaAs中施主和受主杂质的电离能比硅中小一个数量级,确保了即使在较低温度下,杂质原子也能完全电离,为导带(或价带)提供充足的载流子。当然,GaAs也存在劣势,其成本约为硅的十倍,且热导率较低。
其他重要的化合物半导体还包括:
尽管应用广泛,但化合物半导体最重要的应用领域还是光电子学,例如制造发光二极管(LED)和激光器。不同材料的能带结构、载流子迁移率和热学性能千差万别,如何根据具体应用场景选择并验证最合适的材料,是现代电子和光电工程面临的核心挑战。